案例實績需求機器視覺 做法機器視覺、SECS/GEM 成果殘膠檢測、SECS 上報 可討論機器視覺檢測需求
圓型載板殘膠檢測與清洗機 SECS 上報
機器視覺公開案例重點整理,包含需求背景、交付範圍、整理成果與可討論資料。
公開摘要
25Y0001 專案資料列出圓型載盤殘膠檢測系統、相機與鏡頭、光源、視覺主機、NI Vision Module,以及 SECS 主系統、資料庫、SECS/GEM 架構與文件。
單相機殘膠檢測、視覺主機、NI Vision、SECS/GEM 資料交握與清洗機上報。
已整理 5 項可公開交付範圍,重點涵蓋 機器視覺、殘膠檢測、SECS 上報。
已整理 3 項可公開成果,可作為類似 半導體封測 / 清洗設備 需求的初步參考。
此案例目前採文字公開,不使用未確認授權或對應關係的照片。
負責範圍
圓型載盤殘膠檢測
相機、鏡頭、光源與視覺主機規格
SECS 主系統與除錯介面
資料庫與儲存系統
SECS/GEM 文件、授權與現場教育訓練
現場需求
此案屬於機器視覺應用,重點在把 半導體封測 / 清洗設備 的現場流程、通訊資料與可交付文件整理成可維護的系統。
整合方式
- 依 半導體 場域整理 5 項交付範圍,先釐清現場設備、軟體與資料邊界。
- 把 殘膠檢測、SECS 上報、NI Vision 等關鍵需求拆成可測試的開發項目。
- 以現場導入、教育訓練與後續維護為驗收方向,降低追加需求時的重工風險。
可交付價值
- 形成 3 項可公開整理成果,方便客戶理解導入後的改善方向。
- 讓專案不只停留在單點功能,而能對應後續擴充、維護與查詢需求。
- 可作為類似 機器視覺 專案的初步評估參考。
類似需求
半導體封測 / 清洗設備半導體殘膠檢測SECS 上報
整理成果
視覺檢測結果可與清洗設備資料交握
檢測與 SECS 系統分項清楚,方便驗收
硬體規格、軟體授權與測試支援完整列入交付
諮詢前可先整理
導入評估重點
這些項目能協助把「想改善」轉成可估工、可驗收、可交付的專案範圍。
- 目前設備流程、站別角色、操作方式與最想改善的問題。
- 既有通訊介面、控制器、資料庫、檔案格式或上位系統限制。
- 希望保存、上報、查詢或顯示的資料,例如 殘膠檢測、SECS 上報、NI Vision。
- 現場可配合的測試時段、驗收條件、教育訓練與後續維護方式。
下一步
有類似的 機器視覺 需求?
可先提供設備流程、既有通訊方式、希望上報或保存的資料,以及現場限制;羿豐會協助拆成可評估的開發範圍。
SECS/GEM、機器視覺殘膠檢測SECS 上報NI Vision